(来学网)研究颅面生长发育常用的研究方法是
  • A.
    (来学网)X线头影测量
  • B.
    (来学网)牙片
  • C.
    (来学网)咬合片
  • D.
    (来学网)胸片
  • E.
    (来学网)口腔颌面部CT常规扫描检查
正确答案：
A
答案解析：
X线头影测量的主要应用包括：①研究颅面生长发育；②牙颌、颅面畸形的诊断分析；③确定错畸形的矫治设计；④研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化；⑤正颌外科的诊断和矫治设计；⑥下颌功能分析。
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口腔正畸学